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壓敏電阻直流作用下的老化機理
直流作用下。反偏壓側(cè)的Zni向晶界遷移,中和了部分VZn,使表面受主態(tài)密度下降,勢壘降低,阻性電流增大。直流電壓作用下的老化不對稱,是因為測試電壓極性如與老化時加的電壓一致,電壓主要加在正極性側(cè)的耗盡層上,而這一側(cè)可遷移的填隙鋅離子已不多;如極性相反,則電壓主要加在另一側(cè)的耗盡層上,而這側(cè)有大量的填隙鋅離子,所以阻性電流大。
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漏電流IL
漏電流(mA)也稱等待電流,是指壓敏電阻器在規(guī)定的溫度和直流過壓敏電阻器電流。IEC對漏電流 IL較為普遍的定義是:環(huán)境溫度25℃時,在壓敏電阻上施加其所屬規(guī)格的連續(xù)直流工作電壓UDC時,流過壓敏電阻的直流電流。
一般而言,在材料配方和燒結(jié)工藝固定的情況下,漏電流適中的壓敏電阻具有較好的安全性和較長的壽命。
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