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壓敏電阻的物理特性:
ZnO 壓敏電阻的非線性是一種晶粒邊界現(xiàn)象,即在相 鄰晶粒耗盡層中存在多數(shù)電荷載流子(電子)的勢壘。認(rèn) 為肖特基勢壘像 ZnO 微結(jié)構(gòu)中晶粒邊界勢壘。晶粒邊界 上的負(fù)表面電荷(電子捕獲)是由晶界面兩側(cè)晶粒的耗盡 層的正電荷來補(bǔ)償?shù)?。熱電子發(fā)射和隧道效應(yīng)是主要的傳 輸機(jī)制。 近發(fā)展的壓敏電阻勢壘的晶粒邊界缺陷模型在改進(jìn) 穩(wěn)電壓應(yīng)力下,壓敏電阻的穩(wěn)定性上取得了很大進(jìn)展。
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靜態(tài)電容量(PF)
靜態(tài)電容量指壓敏電阻器本身固有的電容容量。
響應(yīng)時(shí)間τ
IEEE定義的壓敏電阻的響應(yīng)時(shí)間τ并不是壓敏電阻材料本身的特性,而是由測試波形、引線、印制電路版的布線方式、外部測試連接線,以及它們所構(gòu)成的磁環(huán)路等外部原因造成的,根據(jù)這一定義,對8/20 μs標(biāo)準(zhǔn)雷電流波或TS>8 μs的電流波,壓敏電阻的響應(yīng)時(shí)間τ=0。
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壓敏電阻沖擊電流作用下的老化機(jī)理
沖擊電流作用下主要是熱老化。能量迅速注入電阻片,溫度升高很多,使離子的能量大為增加,遷移力增大,使反偏壓側(cè)的Zni,Bi3+等向晶界遷移。
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